是德LCR測(cè)試儀E4982A ，1 MHz ～ 300 M/500M/1G/3 GHz
描述
E4982A LCR 表可為 SMD 電感器、EMI 濾波器等無(wú)源元器件的制造測(cè)試提供更佳的性能，其中需要在高頻率上進(jìn)行阻抗測(cè)試（1 MHz ～ 3 GHz）。除了制造測(cè)試之外，E4982A 還可用于研發(fā)領(lǐng)域，借助強(qiáng)大的功能（例如列表測(cè)量）提供質(zhì)量保證。

是德LCR測(cè)試儀主要特性與技術(shù)指標(biāo)

頻率

• 1 MHz ～ 300 MHz / 500 MHz / 1 GHz / 3 GHz，可升級(jí)

測(cè)量時(shí)間

• 高速測(cè)量：0.9 ms（模式 1）、2.1 ms（模式 2）、3.7 ms（模式 3）

基本的精度和阻抗范圍

• 0.8% 的基本精度與的測(cè)量可重復(fù)性

• 寬阻抗測(cè)量范圍：140 mΩ ～ 4.8 kΩ

更多特性

• SCPI 命令和處理器接口與 4287A 兼容

• 小巧的測(cè)試頭（與 4287A 的尺寸相同）

• 列表測(cè)量

• 通用 PC連通性（GPIB、LAN 和 USB）

E4982A LCR表在高頻率（1 MHz ～ 3 GHz）下為無(wú)源元器件如SMD電感器和EMI濾波器提供出色的制造測(cè)試性能。同時(shí)，它也適用于研發(fā)領(lǐng)域，通過(guò)其強(qiáng)大的功能，如列表測(cè)量，確保產(chǎn)品質(zhì)量。